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FBI-PICSL
Responsable : Pierre-François Lenne • Responsable Tech. : Cédric Matthews
Adresse : IBDM
Campus de Luminy
13288 Marseille Cedex 09
13009 Marseille

complements

Certifications

Pas de certification ISO

Site web

http://www.picsl.univ-mrs.fr/

Presentation de la plate-forme

La plateforme met à la disposition des utilisateurs un matériel à la pointe des avancées technologiques, propose un accompagnement et un soutien pour l’utilisation de ce matériel, et forme au mieux les utilisateurs afin d’optimiser les performances. Le plateau applique une démarche qualité en suivant le référentiel de la norme Iso 9001. La performance et la stabilité des équipements sont garanties par un suivi métrologique (http://www.ibdm.univ-mrs.fr/wp-content/uploads/2013/07/metrology.pdf). La plateforme est ouverte à l’ensemble de la communauté scientifique locale et nationale. Un site de réservation en ligne donne accès à l’ensemble des équipements (http://139.124.8.5/intranet_portal/authentification.php). Les utilisateurs sont formés sur les équipements pour être autonomes. L'ensemble des prestations sont facturées


1) prestations

a) Microscopy methods utilizing contrast: DIC, phase contrast, interference contrast
microscopy by reflection, second harmonic generation
b) Fluorescence microscopy techniques: wide field, structured illumination microscope, confocal,
multi-photon, spinning disk, Macro-confocal
c) Live cell time lapse microscopy (environmentally controlled) visible and fluorescence
d) Nano-ablation
e) High resolution microscopy with 3 D STED and PALM / STORM
f) F-techniques : FRAP, ratiometric-FRET, FCS, FCCS
g) Deconvolution with and 4 D reconstruction
h) Specialized image analyses with Image J, Metamorph, ICY, matlab softwares
i) OMERO Database for images

1.2) electron microscopy

-Sample Preparation for EM
=> Chemical fixation
=> High pressure freezing
=> Tokuyasu
=> Plunge freezing
=> Cryosubstitution

- Morphological studies in EM
=> Transmission
=> Scanning electron microscopy

- Immunocytochesmitry for TEM
=> Preemmedding
=> Postemmebedding
=> Tokuyasu technics

- Tridimensional EM technics
=> Electron tomography

- Combine optic and electron microscopy
=> CLEM (Correlative Light Electron Microscopy)

- Serial Block Face Scanning Electron Microscopy


2 entités sont regroupées sous l'entité PiCsl: service imagerie photonique de l'IBDM, Service Imagerie Electronique de l'IBDM, service Imagerie photonique du CIML.

Moyens et equipements

8 confocal microscopes
2 LSM 510 Meta
2 LSM 510
2 LSM 780
1 Nikon macroconfocal
1 Leica SP5X
1 LSM 880 Airy scan

3 two-photons
1 Zeiss 7 MP
1 Zeiss 510 NLO inverted
1 Leica MP 5 with OPO

5 spinning disks
1 Roper-CSU X1 with 2 cameras
1 Roper-CSU 10 dedicated to electrophysiology
1 Perkin Elmer CSU X1, 2 EMCCD cameras
1 Visitron CSU X1, 2 EMCCD
1 homemade polarization spinning disk

1 lightsheet Zeiss Z1

14 video- microscopes
3 apotomes
2 environnemental video-microscope
8 microscopes
1 phase imaging

Haute résolution

Leica 3D STED avec 2 raies de déplétion 592 nm et 660 nm
PALM/STORM home made

Imagerie dynamique

Multimodal FCS with 1P & 2P excitation (Alba-ISS)

Traitement d'images :

Imaris (3D and tracking)
Matlab
Huygens decovolution
Electron tomography


Microscopie électronique

TEM FEI Tecnai G2, cryoimaging and tomography (2014)
TEM Morgagni: 100KV (2000)
SFB_SEM FEI avec système serial block face

Site Nord: CMI

Microscopie électronique

1 Microscope électronique à transmission Philips CM10 (1991), équipé d’un système d’acquisition et de traitement d’images (Elexience) (2006).

1 Ultracryomicrotome Leica (1995).

Galerie

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